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硅圆形窗口片

直径范围: 2-300mm
厚度: 0.12-60mm
光洁度: 80-50,60-40,40-20,20-10,10-5
面型: λ/2,λ/4,λ/8,λ/10
平行度: <3'-30”
通光口径: >90%
镀膜: 可定制
透过范围: 1.2-15μm
基底材料:硅
硅圆形窗口片是一种基于单晶硅材料的光学元件,具有高硬度、低密度和优异的化学稳定性等特点,广泛应用于光学系统、激光雷达、红外成像设备等领域。
产品详情 定制须知 产品结构
产品详情

        硅圆形窗口片是一种基于单晶硅材料的光学元件,具有高硬度、低密度和优异的化学稳定性等特点,广泛应用于光学系统、激光雷达、红外成像设备等领域。

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1. 材料特性

        材质:硅(Si)是一种化学惰性气体,硬度高,不溶于水,具有良好的耐腐蚀性和热稳定性。

        密度:硅的密度为2.329 g/cm³,比锗或硒化锌更低,使其成为重量敏感应用的理想选择。

        折射率:硅的折射率为3.422(@550nm),在红外波段具有良好的透光性能。

        热膨胀系数:硅的热膨胀系数较低(CTE = 5.5 × 10⁻⁶/°C),适合需要高精度光学元件的应用。

2. 光学特性

        透射范围:硅窗口片通常用于1.2-7μm波段,尤其在远红外波段(30-300μm)表现出色。

        反射率:未镀膜时,硅窗口片在可见光至近红外范围内反射率较低,镀膜后可进一步降低反射率。

        光学镀膜:常见的镀膜类型包括AR(抗反射)膜、UV-UV膜、IR-UV膜等,以满足不同波段的光学需求。

3. 应用领域

        激光雷达:硅窗口片因其高透光性和抗反射性,被广泛用于激光雷达系统中,提供稳定高效的光路传输。

        红外成像:硅窗口片是红外成像系统中的关键元件,适用于国防兵器、医疗成像、夜视设备等领域。

        光学传感器保护:硅窗口片用于保护电子传感器或探测器,防止外界环境因素干扰。

定制须知

定制规格

11

硅透过率


产品结构

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硅材料数据

数据